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    面团高度一致测量[成功案例]

    Consistent Dough Height Measurement Image

    部署在发芽线上的L-GAGE®LH系列激光传感器在烘焙前测量面团高度

    客户要求： 在烘焙前，自动、谷物面团高度一致测量

    解决方案： L-GAGE® LH系列激光传感器

    为何选择邦纳？ 高精度——CMOS线性成像仪提供微米级分辨率

    多功能——非接触式激光传感器不受材料颜色、质地和粘度差异的影响

    带给客户的优势

    一致性——通过持续检测，确保面团不会超出所需的参数

    节省成本——测量精度提高了产量和效率

    背景

    食品行业的某个龙头企业管理着大量受欢迎的品牌。该公司的产品遍布全球各地。长久以来，该公司在产品质量、味道和营养方面赢得了良好的声誉。

    该公司某种受欢迎的早餐谷物的面团必须具备特定的高度参数，以确保制成完美的薄片。面团太厚会让烘烤出来的产品变得又硬又沉。面团太薄则会让薄片易碎。这会影响最终产品的质量、味道、质地以及产品重量和包装。任何不符合该公司严格质量标准的产品，都不会在消费市场上出货或出售。

    挑战

    为保持质量标准，检验员使用测微计定期测量面团。操作员则根据这些测量结果来调整压辊，以修正面团的高度。测量不一致和其他错误很容易发生。如果面团太厚或太薄，工作人员将不得不停止生产线并取出面团。几条生产线的生产力和时间损失成本每年超过15万美元。该公司希望自动实施此流程，以提高一致性、节省时间和降低开支

    解决方案

    该公司与邦纳及邦纳的合作伙伴合作，在谷物挤压膨化机上部署了L-GAGE®LH系列激光传感器。这种传感器具有高分辨率的1024像素CMOS线性成像仪，能够实现微米级分辨率，非常适合需要高精度的测量应用。当面团向烤箱行进时，L-GAGE LH将对面团进行持续的非接触式高度测量。随着面团发生变化，可以很轻松地调整压辊，以保持适当、一致的面团高度。

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